電解槽雙極板接觸電阻
2024-05-10
雙極板接觸電阻的大小取決于多個(gè)因素，包括接觸面積、接觸壓力、接觸材料和表面狀態(tài)等。例如，增加接觸面積和接觸壓力可以降低接觸電阻，而使用導(dǎo)電性能更*好的材料或保持表面清潔也可以降低接觸電阻。
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碳纖維單絲、紗束及其復(fù)合材料電阻率測(cè)試方法
2024-01-23
體積電阻率由試樣的電阻、試樣的長(zhǎng)度和橫截面積計(jì)算得到.電阻和試樣長(zhǎng)度由測(cè)試獲得;方法A碳纖維單絲體積電阻率的測(cè)定方法，其橫截面積由單絲直徑計(jì)算獲得；方法B碳纖維紗束體積電阻率，橫截面積由試樣的密度和線密度計(jì)算獲得.
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轉(zhuǎn)鼓法表征粉體流動(dòng)性的特點(diǎn)及應(yīng)用
2024-01-15
轉(zhuǎn)鼓法表征粉體流動(dòng)性的特點(diǎn)及應(yīng)用 轉(zhuǎn)鼓法表征粉體流動(dòng)性的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、快速、準(zhǔn)確度高，可以用于各種粉體材料的流動(dòng)性測(cè)試，包括金屬、非金屬、礦物、化學(xué)原料等。
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材料電阻/電阻率測(cè)試方法及特點(diǎn)
2024-01-15
材料電阻/電阻率測(cè)試方法及特點(diǎn) 材料電阻率是描述材料導(dǎo)電性能的物理量，其大小取決于材料的種類、成分、溫度、壓力等因素。電阻率越大，導(dǎo)電性能越差；電阻率越小，導(dǎo)電性能越好。
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四探針法測(cè)量半導(dǎo)體電阻率及薄層電阻
2023-12-07
四探針法測(cè)量半導(dǎo)體電阻率及薄層電阻 四探針法是一種廣泛用于測(cè)量半導(dǎo)體電阻率及薄層電阻的電學(xué)測(cè)量方法。其通過(guò)在樣品上放置四個(gè)探針，并施加電流，測(cè)量電壓降來(lái)計(jì)算電阻率和薄層電阻。該方法的優(yōu)點(diǎn)在于其非破壞性、快速、準(zhǔn)確且適用于不同形狀和大小的樣品。
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半導(dǎo)體電阻率的測(cè)試方法及影響因素
2023-12-07
半導(dǎo)體電阻率的測(cè)試方法及影響因素 半導(dǎo)體電阻率是衡量半導(dǎo)體材料電學(xué)性能的重要參數(shù)，對(duì)于半導(dǎo)體的制備和器件的性能有著重要的影響。因此，對(duì)半導(dǎo)體電阻率的測(cè)試方法及影響因素進(jìn)行研究，對(duì)于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展具有重要意義。
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直流四探針法測(cè)電阻率樣品厚度和面積的影響
2023-12-07
直流四探針法測(cè)電阻率樣品厚度和面積的影響 直流四探針法是一種常用的測(cè)量電阻率的方法，它通過(guò)測(cè)量四個(gè)探針之間的電流和電壓來(lái)計(jì)算電阻率。然而，樣品的厚度和面積對(duì)測(cè)量結(jié)果有很大影響。
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電阻 方塊電阻 電阻率的區(qū)別
2023-12-07
電阻 方塊電阻 電阻率的區(qū)別 電阻是一個(gè)物理概念，表示導(dǎo)體對(duì)電流的阻*礙作用。方塊電阻和電阻率是電阻的兩種不同度量方式，它們之間存在一定的區(qū)別。
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絕緣材料電阻率測(cè)試常用的兩種方法
2023-12-07
絕緣材料電阻率的測(cè)試是確保其電氣性能的重要環(huán)節(jié)。目前，絕緣材料電阻率測(cè)試主要采用以下兩種方法： 1. 直接測(cè)量法：通過(guò)測(cè)量絕緣材料的直流電阻，可以直接得到其電阻率。該方法具有較高的精度和可靠性，但需要較長(zhǎng)的時(shí)間和較高的成本。在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，我們通常采用這種方法來(lái)對(duì)絕緣材料進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)。
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固態(tài) 液態(tài) 氣態(tài)絕緣材料電阻率測(cè)試方法
2023-12-07
固態(tài) 液態(tài) 氣態(tài)絕緣材料電阻率測(cè)試方法 絕緣材料的電阻率測(cè)試方法通常包括固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)三種狀態(tài)下的測(cè)試。這些測(cè)試方法可以用來(lái)評(píng)估材料的導(dǎo)電性能和絕緣性能。
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